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磁光克爾效應測量系統(tǒng)高靈敏磁強計磁性測量 非接觸式測量，是一種無損測量系統(tǒng)；可以測量同一樣品厚度不等的楔形磁性薄膜。

測量系統(tǒng)磁光效應原理分辨率（δ）0.001度 起偏/檢偏器：格蘭-湯普森棱鏡，外徑25.4mm，通光孔徑10mm，消光比5*10^-5，角度范圍14~16°，波長范圍350~2300nm。

磁光克爾效應測量系統(tǒng)磁學測量儀器 可測試材料：記錄磁頭，磁性薄膜，特殊磁介質，磁場傳感器 。

磁光克爾效應測量系統(tǒng)磁強計樣品磁性測量 廣泛應用于諸如磁性納米技術、自旋電子學、磁性薄膜、磁性隨機存儲器、GMR/TMR等磁學領域。